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產(chǎn)品中心

厚度測(cè)試儀

品牌:Novitec

特點(diǎn):能夠同時(shí)測(cè)量厚度和折光率
高速 (<250 kHz) 和高精度 (<10 nm)
能夠測(cè)量的基本材料種類(lèi)多(玻璃、硅片等)

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產(chǎn)品詳情

特點(diǎn)

能夠同時(shí)測(cè)量厚度和折光率
高速 (<250 kHz) 和高精度 (<10 nm)
能夠測(cè)量的基本材料種類(lèi)多(玻璃、硅片等)
可在各種環(huán)境(表面條件、振動(dòng)等)下進(jìn)行測(cè)量


應(yīng)用

測(cè)量涂層或者是鍍層的厚度


參數(shù)

部分參數(shù)如下(T-Nova-850/1550TN):

工作波長(zhǎng)范圍

750 納米 - 950 納米 / 1490 納米 - 1610 納米

厚度測(cè)量分辨率

<10 nm,折射率:10-3

厚度測(cè)量范圍(基于普通玻璃)

6 微米 - 1.2 毫米 / 20 微米 - 3 毫米

最大測(cè)量速度

250 kHz / 40 kHz

允許的測(cè)量角度

<±5o

測(cè)量原理

光譜干涉儀

標(biāo)準(zhǔn)

提供 KRISS 標(biāo)準(zhǔn)厚度試樣


案例( MIKS1_S)


清單

產(chǎn)品

工作波長(zhǎng)范圍

厚度測(cè)量分辨率

厚度測(cè)量范圍

最大測(cè)量速度

(基于普通玻璃)

T-Nova-850/1550TN 系列

750 nm - 950 nm / 1490 nm - 1610 nm

<10 nm,折射率:10^-3

6 um - 1.2 mm / 20 um - 3 mm

250 kHz / 40 kHz

T-Nova-850/1550R

750 nm - 950 nm / 1490 nm - 1610 nm

10 nm(或 0.1 nm

400 nm - 1.2 mm / 2 um - 3 mm

250 kHz / 40 kHz

原廠介紹

Novitec在2012年成立于韓國(guó),致力于視覺(jué)傳感領(lǐng)域的研究。Novitec的厚度測(cè)量?jī)x采用透射法進(jìn)行厚度檢測(cè),能夠?qū)崿F(xiàn)同時(shí)測(cè)量厚度和折光率,可以高速 (<250 kHz) 和高精度 (<10 nm)得測(cè)量多種材料(玻璃、硅片等)的基板

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